大学の予算で導入され化学コースで共通機器として管理している装置の一覧です。
これらの共通機器は奈良女子大学に在籍している学生ならどなたでも所定の手続きを経て利用登録を行うと使用可能となります。
装置の利用登録の方法などは管理責任者に問い合わせてください。
| 装置種類 |
単結晶X線構造解析装置 |
| 装置名称 |
VariMax Saturn（リガク社製） |
| 導入年度 |
2009年度（文部科学省概算要求設備） |
| 設置場所 |
理学部C棟C025 |
| 特徴 |
単結晶X線構造解析装置では、単色X線を単結晶の試料に照射しX線が原子の周りにある電子によって散乱・干渉した結果起こる回折を解析することにより結晶構造を明らかにすることができる。本装置では、X線強度が強いため微小結晶(一辺0.05mm程度)も測定できる。また、-120℃～室温領域での測定が可能である。 |
| 使用条件 |
単結晶X線構造解析装置の使用経験のある教員で放射線業務従事者として登録されている者。初回測定時には簡単な講習を行います。 |
| 管理責任者 |
化学コース 中島隆行 (理学部C棟C324) |
| 問合せ先 |
0742－20－3847
t.nakajima cc.nara-wu.ac.jp |
| 使用料 |
測定1日当たり500円 |
| 装置種類 |
単結晶X線構造解析装置 |
| 装置名称 |
XtaLAB mini （リガク社製） |
| 導入年度 |
2009年度（文部科学省概算要求設備） |
| 設置場所 |
理学部A棟A205 |
| 特徴 |
単結晶X線構造解析装置では、単色X線を単結晶の試料に照射しX線が原子の周りにある電子によって散乱・干渉した結果起こる回折を解析することにより結晶構造を明らかにすることができる。本装置は取扱が容易なデスクトップ型の小型機で、格子定数決定などの予備測定や学生自身によるデータ収集などを目的として運用している。X線強度が弱いため比較的大きな結晶 (一辺0.2mm程度) を測定対象としており、–120℃～室温での測定が可能である。 |
| 使用条件 |
単結晶X線構造解析装置の使用経験のある教員、学生で放射線業務従事者として登録されている者。初回測定時には簡単な講習を行います。 |
| 管理責任者 |
化学コース 梶原孝志 (理学部新B棟新B1307) |
| 問合せ先 |
0742－20－3402
kajiwaracc.nara-wu.ac.jp |
| 使用料 |
測定1日当たり300円 |
| 装置種類 |
NMR装置（400 MHz） |
| 装置名称 |
JNM AL-400（JEOL社製） |
| 導入年度 |
2003年度（文部科学省概算要求設備） |
| 設置場所 |
大学院E棟E158 |
| 特徴 |
NMR（Nuclear Magnetic Resonance，核磁気共鳴）装置とは、原子核を磁場の中に入れて核スピンの共鳴現象を観測することで物質の分子構造を原子レベルで解析するための装置です。本装置では1H, 13Cをはじめ多様な核種を測定できます。温度可変測定も可能であり、低温でのみ安定な化合物の観測、試料の溶存状態における動的挙動の解明や速度論実験などに役立ちます。 |
| 使用条件 |
毎年4月に行われる講習会に参加し、ライセンスを取得すること。 |
| 管理責任者 |
化学コース 浦 康之 (理学部新B棟新B1303) |
| 問合せ先 |
0742-20-3403
uracc.nara-wu.ac.jp |
| 使用料 |
登録料1教員当たり年間5,000円 測定時間1時間当たり30円（9時～21時）， 15円（21時～9時） |
| 装置種類 |
NMR装置（300 MHz） |
| 装置名称 |
AV-300N （Bruker社製） |
| 導入年度 |
2009年度（文部科学省補正予算） |
| 設置場所 |
理学部C棟C326 |
| 特徴 |
NMR（Nuclear Magnetic Resonance，核磁気共鳴）装置とは、原子核を磁場の中に入れて核スピンの共鳴現象を観測することで物質の分子構造を原子レベルで解析するための装置です。本装置では、多様な核種を全自動で測定できるため、一度の測定機会に簡便に多くの測定を連続して行うことが可能です。また，温度可変測定などもできるため、試料の溶存状態での動的挙動を明らかにすることができます。 |
| 使用条件 |
毎年4月に行われる講習会に参加し、ライセンスを取得すること。 |
| 管理責任者 |
化学コース 中島隆行 (理学部C棟C324) |
| 問合せ先 |
0742－20－3847
t.nakajimacc.nara-wu.ac.jp |
| 使用料 |
登録料1教員当たり年間5,000円 登録料1教員当たり年間5000円 測定時間1時間当たり30円（9時～21時），15円（21時～9時） |
| 装置種類 |
紫外可視吸収スペクトル（UV-vis）装置 |
| 装置名称 |
V-670 （日本分光社製） |
| 導入年度 |
2009年度（サイエンスオープンラボ経費） |
| 設置場所 |
理学部C棟C013 |
| 特徴 |
紫外可視吸収スペクトル（UV-vis）装置では、基底状態にある分子が可視・紫外領域の光エネルギーを吸収すると、電子が遷移（電子遷移）することによって励起状態の分子が生じることを利用し、その特性吸収帯をスペクトルとして測定するものである。ある物質が吸収する光の強さは波長によって異なり、得られた吸収スペクトルは物質に特有のものである。 |
| 使用条件 |
紫外可視吸収スペクトル（UV-vis）装置の取り扱いを熟知しているもの。 |
| 管理責任者 |
化学コース 中島隆行 (理学部C棟C324) |
| 問合せ先 |
0742－20－3847
t.nakajimacc.nara-wu.ac.jp |
| 使用料 |
年間ユーザー料1,000円（教員当たり） |
| 装置種類 |
フーリエ変換赤外分光光度計（FT/IR） |
| 装置名称 |
FT/IR-6100V（日本分光社製） |
| 導入年度 |
2009年度（文部科学省概算要求設備） |
| 設置場所 |
理学部C棟C013 |
| 特徴 |
赤外分光光度計とは、試料に赤外光を照射すると試料中の分子の回転や振動運動がおき、このときに吸収された赤外線エネルギー量を測定することで化学結合の種類（官能基）を決定するための装置である。本装置では、KBr法、ATR法、溶液セル法などの測定が可能である。 |
| 使用条件 |
化学コースの研究室ではライセンスを取得している学生から講習を受けることによりライセンスを取得できる。化学コース以外の学生は講習会に参加しライセンスを取得すること。 |
| 管理責任者 |
化学コース 中島隆行 (理学部C棟C324) |
| 問合せ先 |
0742－20－3847
t.nakajimacc.nara-wu.ac.jp |
| 使用料 |
1教員当たり年間1000円 |
| 装置種類 |
分光蛍光光度計 |
| 装置名称 |
FP-6600（日本分光社製） |
| 導入年度 |
2009年度（文部科学省概算要求設備） |
| 設置場所 |
理学部C棟C013 |
| 特徴 |
分光蛍光光度計とは、試料に光を当てることによってエネルギーを吸収させ、試料の蛍光・りん光を調べる装置です。本装置では、発光スペクトル、励起スペクトル、発光寿命、量子効率などを調べることができます。 |
| 使用条件 |
化学コースの研究室ではライセンスを取得している学生から講習を受けることによりライセンスを取得できる。化学コース以外の学生は講習会に参加しライセンスを取得すること。 |
| 管理責任者 |
化学コース 中島隆行 (理学部C棟C324) |
| 問合せ先 |
0742－20－3847
t.nakajimacc.nara-wu.ac.jp |
| 使用料 |
1教員当たり年間1000円 |
| 装置種類 |
物性評価総合システム |
| 装置名称 |
PPMS EverCool II （日本カンタムデザイン社製） |
| 導入年度 |
2014年度（文部科学省概算要求設備） |
| 設置場所 |
理学部新B棟新B1107B |
| 特徴 |
本システムはヘリウムの液化システム（EverCool II）を搭載し、一度のヘリウムガス供給により2 K～400 Kの温度範囲で様々な物性を数ヶ月間にわたって連続的に測定することが可能な物性評価システムである。アタッチメントの交換により種々の物性の評価が可能であるが、現在は電気伝導度、直流磁化率、交流磁化率の測定が可能となっている。印加できる直流磁場の強さは-9.0～9.0 T、交流磁場の周波数は10～10000Hzである。 |
| 使用条件 |
装置の運用・測定にあたっては管理責任者による講習を受け、使用の許可を受けること。 |
| 管理責任者 |
化学コース 梶原孝志 (理学部新B棟新B1307) |
| 問合せ先 |
0742－20－3402
kajiwaracc.nara-wu.ac.jp |
| 使用料 |
1年間のヘリウムガス使用量をもとに、測定日数に応じてヘリウムガス代の実費の一部を負担してもらう。1日当たり100円。 |
| 装置種類 |
MALDI飛行時間型質量分析装置 |
| 装置名称 |
Axima™ Performance（島津製作所／Kratos, UK社製） |
| 導入年度 |
2012年度（文部科学省概算要求プロジェクト研究） |
| 設置場所 |
コラボレーション棟Z103室 |
| 特徴 |
マトリックス支援レーザー脱離-イオン化（MALDI）法により発生させたイオンの質量／電荷比（m/z）を、イオンの飛行時間から計測する装置である。測定にはm/z値が500,000まで測定できるリニアモードと，イオンのフラグメント化によりペプチドのアミノ酸配列解析ができるリフレクトロンモード（m/z値は約4,000まで）の測定が可能で、共に陽イオンだけでなく陰イオンも検出できる。MALDI法では試料に低分子のマトリックスを混合するため低分子量（m/z＜800）の試料の測定には向かないが、合成高分子や分子量数万のタンパク質をはじめ多糖類や核酸などの生体高分子も高感度（分子量2,000前後のペプチドで10–100 pmol）での測定が可能である。 |
| 使用条件 |
研究室で新規に使用したい場合、中沢研の学生または院生が使用目的に応じて最初の数回、実地に講習します。 |
| 管理責任者 |
化学コース 浦 康之 (理学部新B棟新B1203) |
| 問合せ先 |
0742－20－3403
uracc.nara-wu.ac.jp |
| 使用料 |
測定1日当たり500円 |
| 装置種類 |
エレクトロスプレーイオン化質量分析（ESI-MS）装置 |
| 装置名称 |
AccuTOF JMS-T100LC型 （JEOL社製） |
| 導入年度 |
2003年度（文部科学省概算要求設備） |
| 設置場所 |
大学院E棟E158 |
| 特徴 |
エレクトロスプレーイオン化法により、試料分子をフラグメント化することなくイオン化できることに加え、TOFMSの本質的特徴である高感度・高分解能・高質量精度に質量分析ができる。本装置では、溶液試料（主に有機溶媒）を対象とし、〜10,000までの質量範囲で高分解能（6000程度）での測定が可能である。 |
| 使用条件 |
管理者による講習を受講し、ライセンス試験を受けること。 |
| 管理責任者 |
化学コース 高島 弘 (理学部C棟C226) |
| 問合せ先 |
0742－20－3391
hiroshicc.nara-wu.ac.jp |
| 使用料 |
測定1日当たり500円 |
| 装置種類 |
元素分析装置 |
| 装置名称 |
JM10 （ジェイ・サイエンス社製） |
| 導入年度 |
2009年度（平成２０年度 女性人材育成教育研究環境改革推進経費） |
| 設置場所 |
コラボレーションセンターZ棟Z108 |
| 特徴 |
元素分析装置では、有機物の主な構成元素である水素（Ｈ）、炭素（Ｃ）、窒素（Ｎ）の含有量を測定する。ヘリウムと酸素の混合ガス雰囲気下、高温の燃焼管中で試料を完全燃焼し、硫黄分などを除去するための吸収管を通した燃焼ガスを酸化、還元することにより、H2O、CO2、N2とキャリヤーガスであるヘリウムの混合ガスとする。この混合ガスの熱伝導度をH2O吸収管、CO2吸収管の前後で測定することにより、HとCの定量を行い、さらに残ったガスとキャリヤーガスであるヘリウムとの熱伝導度の差からNの定量を行う。 |
| 使用条件 |
元素分析装置の講習会を受講し、別途ライセンス試験に合格したもの。 |
| 管理責任者 |
化学コース 松本有正 (理学部C棟C323) |
| 問合せ先 |
0742－20－3563
a-matsumotocc.nara-wu.ac.jp |
| 使用料 |
測定1件当たり150円（測定には捨て焼き、標準サンプルなど全ての 測定を含む） |
| 装置種類 |
円二色性（CD）スペクトル装置 |
| 装置名称 |
J-720（日本分光社製） |
| 導入年度 |
1994年度（文部科学省概算要求設備） |
| 設置場所 |
大学院E棟E158 |
| 特徴 |
キラル物質中を直線偏光が通過すると、出てきた透過光はその偏光面が旋光角αだけ回転しているのと同時に、もはや直線偏光ではなく楕円偏光となっている。これは、左回りと右回りの円偏光に対する吸収強度に差が生じるためである。この現象を円二色性（circular dichroism, CD）という。円二色性（CD）スペクトル装置では、上述の現象の波長依存性をスペクトルとして測定するものであり、化合物のキラリティーの解析と分析、絶対構造の決定、立体配座解析に有用である。 |
| 使用条件 |
円二色性（CD）スペクトル装置の取り扱いを熟知しているもの。 |
| 管理責任者 |
化学コース 中島隆行 (理学部C棟C324) |
| 問合せ先 |
0742－20－3847
t.nakajimacc.nara-wu.ac.jp |
| 使用料 |
年間ユーザー料1,000円（教員当たり） |
| 装置種類 |
円二色性（CD）スペクトル装置 |
| 装置名称 |
J-730（日本分光社製） |
| 導入年度 |
1994年度（文部科学省概算要求設備） |
| 設置場所 |
理学部C棟C023 |
| 特徴 |
キラル物質中を直線偏光が通過すると、出てきた透過光はその偏光面が旋光角αだけ回転しているのと同時に、もはや直線偏光ではなく楕円偏光となっている。これは、左回りと右回りの円偏光に対する吸収強度に差が生じるためである。この現象を円二色性（circular dichroism, CD）という。円二色性（CD）スペクトル装置では、上述の現象の波長依存性をスペクトルとして測定するものであり、化合物のキラリティーの解析と分析、絶対構造の決定、立体配座解析に有用である。J-730は，J-720と比較して長波長側を測定でき日本に数台しかない装置である。 |
| 使用条件 |
円二色性（CD）スペクトル装置の取り扱いを熟知しているもの。 |
| 管理責任者 |
化学コース 中島隆行 (理学部C棟C324) |
| 問合せ先 |
0742－20－3847
t.nakajimacc.nara-wu.ac.jp |
| 使用料 |
年間ユーザー料1,000円（教員当たり） |
| 装置種類 |
時間分解分光システム ナノ秒過渡吸収分光測定装置 |
| 装置名称 |
TSP-1000 （ユニソク社製） |
| 導入年度 |
2009年度（文部科学省補正予算） |
| 設置場所 |
理学部C棟C230 |
| 特徴 |
ナノ秒パルスレーザーにより励起された試料の光化学反応を、吸光度の時間変化によって追跡することができる。時間分解能は10nsである。本装置では、主に溶液試料を対象とし、マルチチャンネル測光部と、反応速度測定に適した単一波長測光仕様を選択可能であり、単一波長測光仕様は近赤外にも対応する。 |
| 使用条件 |
管理者による講習を受講すること。 |
| 管理責任者 |
化学コース 高島 弘 (理学部C棟C226) |
| 問合せ先 |
0742－20－3391
hiroshicc.nara-wu.ac.jp |
| 使用料 |
測定1日当たり500円 |
| 装置種類 |
時間分解分光システム 蛍光寿命測定装置 |
| 装置名称 |
TemPro （HORIBA社製） |
| 導入年度 |
2009年度（文部科学省補正予算） |
| 設置場所 |
理学部C棟C230 |
| 特徴 |
単一光子計測法による蛍光・りん光物質の発光寿命測定ができる。本装置では、主に溶液試料を対象とする。励起光源としてLEDを使用し、簡単な交換で紫外〜可視領域の励起波長をフレキシブルに変更できる。ナノ秒からミリ秒までの蛍光・りん光測定が可能である。 |
| 使用条件 |
管理者による講習を受講すること。 |
| 管理責任者 |
化学コース 高島 弘 (理学部C棟C226) |
| 問合せ先 |
0742－20－3391
hiroshicc.nara-wu.ac.jp |
| 使用料 |
測定1日当たり500円 |
| 装置種類 |
AFM装置 |
| 装置名称 |
SPM-9500J3 （島津製作所社製） |
| 導入年度 |
2002年度（教育研究高度化推進経費） |
| 設置場所 |
理学部C棟C023 |
| 特徴 |
本装置は、試料表面に非常に小さなてこ（カンチレバー）を近づけて、試料表面とカンチレバーとの間に働く力（原子間力）を検出することによって、試料表面の形状を観察する装置です。金属や半導体をはじめとして、セラミックス、有機物、高分子、生体試料等もコーティングなどの前処理をせずに大気中で観察が可能で、数千倍から数百万倍という高倍率の試料表面凹凸像が得られます。試料の深さ方向の分解能にも優れているため、材料表面粗さの精度測定が可能です。 |
| 使用条件 |
管理者から講習を受けること。 |
| 管理責任者 |
化学コース 中島隆行 (理学部C棟C324) |
| 問合せ先 |
0742－20－3847
t.nakajimacc.nara-wu.ac.jp |
| 使用料 |
年間ユーザー料1000円（教員あたり） |
